Kategorie: Funktionale Sicherheit | Prozessanalytik | PLT-Schutzeinrichtungen | PAT
Autor: Dusko Kadijevic, Publisher Analytic Journal
Zuletzt aktualisiert: Mai 2026
Lesezeit: ca. 10 Minuten
SIL (Safety Integrity Level): Diskrete Stufe (1â4) zur Beschreibung der ZuverlĂ€ssigkeitsanforderung an eine Sicherheitsfunktion in E/E/PE-Systemen. SIL 4 ist die höchste, SIL 1 die niedrigste Stufe.
PFD (Probability of Failure on Demand): Mittlere Wahrscheinlichkeit, dass eine Sicherheitsfunktion im Anforderungsfall versagt.
SIS (Safety Instrumented System): Gesamtsystem aus Sensor, Logikeinheit und Aktor.
PLT-Schutzeinrichtung: Deutsche Bezeichnung fĂŒr sicherheitsgerichtete prozeĂleittechnische Einrichtungen â funktional identisch mit SIS.
Jede Sicherheitsfunktion wird durch einen Sicherheitskreis realisiert. Das schwÀchste Glied bestimmt den erreichbaren SIL des Gesamtsystems:
| Element | Funktion | Typische GerÀte in der Prozessanalytik |
|---|---|---|
| Sensor / Analysator | Erfasst die sicherheitsrelevante ProzessgröĂe | TOC-Analysator, Gasdetektor, Oâ-Sensor, TDLS-System, pH-Transmitter |
| Logikeinheit (SPS) | Bewertet Signal, entscheidet ĂŒber Schutzaktion | Sicherheits-SPS nach IEC 61511 |
| Aktor | FĂŒhrt Schutzaktion aus | Sicherheitsventil, Abschaltrelais, Alarm |
Was bedeuten die SIL-Level konkret? SIL steht fĂŒr Safety Integrity Level â eine Skala von 1 bis 4, die beschreibt, wie zuverlĂ€ssig eine Sicherheitsfunktion im Ernstfall funktionieren muss. SIL 1 ist die niedrigste Anforderung: Die Funktion darf in maximal 1 von 10 AnforderungsfĂ€llen versagen. SIL 2 verlangt eine zehnfach höhere ZuverlĂ€ssigkeit: maximal 1 von 100. SIL 3 nochmals zehnfach strenger, SIL 4 ist die höchste Stufe. Die genauen Zahlenwerte â die PFD-Bereiche â folgen in Teil 2 dieser Seite.
Grundsatz: Jedes Element des Sicherheitskreises â Sensor, Logik und Aktor â muss die Anforderung des angestrebten SIL erfĂŒllen. Ein Sensor, der SIL 2 erfĂŒllt, ein Aktor, der nur SIL 1 erfĂŒllt: Das Gesamtsystem erreicht nur SIL 1 â begrenzt durch das schwĂ€chste Glied. Es hilft also nichts, einen hochzertifizierten Analysator einzusetzen, wenn das Ventil am Ende der Kette die Anforderungen nicht erfĂŒllt. Die Systembetrachtung des gesamten Kreises ist Pflicht.
Die Notation "MooN" bedeutet: M von N KanĂ€len mĂŒssen das Signal bestĂ€tigen, um die Schutzaktion auszulösen.
| Architektur | Bedeutung | Fehlertoleranz | VerfĂŒgbarkeit | Typischer Einsatz |
|---|---|---|---|---|
| 1oo1 | 1 von 1 | Kein Fehler toleriert | Hoch | SIL 1, einfache Schutzfunktionen |
| 1oo2 | 1 von 2 | Ein Sensor darf ausfallen | Mittel | SIL 2â3, hohe Sicherheitsanforderung |
| 2oo2 | 2 von 2 | Kein Fehler toleriert | Sehr hoch | Hohe VerfĂŒgbarkeit, geringere Sicherheit |
| 2oo3 | 2 von 3 | Ein Sensor darf ausfallen oder Fehlsignal geben | Hoch | SIL 2â3, optimale Balance |
2oo3 in der Praxis: Drei Sensoren messen dieselbe GröĂe. Ein AusreiĂer wird durch Mehrheitsentscheid erkannt. FĂ€llt ein Sensor aus, lĂ€uft das System weiter. Erst wenn zwei ĂŒbereinstimmend ansprechen, wird die Schutzaktion ausgelöst. Das verhindert Fehlalarme und ermöglicht Wartung im laufenden Betrieb.
Standardredundanz schĂŒtzt vor GerĂ€teausfall, aber nicht vor systematischen Fehlern â Querempfindlichkeiten, die alle identischen Sensoren eines 2oo3-Systems gleichzeitig verfĂ€lschen.
DiversitÀre Redundanz setzt zwei völlig verschiedene Messprinzipien ein:
Beispiel Oâ-Messung in einem Inertisierungskreis:
Beide Prinzipien sind physikalisch so verschieden, dass eine gemeinsame StörgröĂe beide gleichzeitig verfĂ€lscht, praktisch ausgeschlossen ist.
Ein wichtiger praktischer Unterschied zwischen den beiden KanĂ€len: Der paramagnetische Sauerstoffsensor ist ein Online-GerĂ€t â er benötigt eine Probenaufbereitung: Probenleitung, Filter, KĂŒhler, Druckregler und eine Gasdosierpumpe oder einen Durchflussmesser, der den Probengasstrom zum Sensor transportiert. Diese Hilfskomponenten sind Teil des Sicherheitskreises und mĂŒssen ebenfalls in die SIL-Betrachtung einbezogen werden â ein Filterausfall oder ein Pumpenstopp macht den Sensor blind, ohne dass er selbst einen Fehler anzeigt.
Das TDLS-System hingegen misst inline, direkt im Prozessrohr â ohne Probenentnahme, ohne Probenleitung, ohne Pumpe. Das reduziert die Anzahl sicherheitsrelevanter Hilfskomponenten erheblich und vereinfacht die SIL-Betrachtung.
Hinweis: Die Unterschiede zwischen Online- und Inline-Messprinzipien, ihre jeweiligen Vor- und Nachteile in SIL-Applikationen sowie die Einbindung von Durchflussmessern in Sicherheitskreise werden in einem separaten Artikel auf Analytic Journal vertieft.
| Aspekt | Standard-Redundanz (gleicher Typ) | DiversitÀre Redundanz (zwei Prinzipien) |
|---|---|---|
| Investitionskosten | Mittel | Hoch |
| Kalibrierung | Ein Verfahren | Zwei Verfahren, zwei Standards |
| Wartung | Einheitlich | Zwei Konzepte, zwei Ersatzteilhaltungen |
| Schutz vor systematischen Fehlern | Begrenzt | Sehr hoch |
| Validierungsaufwand | Standard | Umfangreich â beide Prinzipien |
Fazit: DiversitĂ€re Redundanz ist kein Standardweg, sondern Ausnahme fĂŒr Hochrisikoapplikationen, bei denen systematische Fehler nicht ausgeschlossen werden können. Der Aufwand ist erheblich und muss im HAZOP-Prozess explizit begrĂŒndet werden.
| SIL-Stufe | PFD-Bereich (Low Demand) | PFH-Bereich (High Demand) | Risikominderungsfaktor | Typische Anwendung |
|---|---|---|---|---|
| SIL 1 | 10â»Âč bis 10â»ÂČ | 10â»â” bis 10â»â¶/h | 10â100 | Allgemeine ProzessĂŒberwachung |
| SIL 2 | 10â»ÂČ bis 10â»Âł | 10â»â¶ bis 10â»â·/h | 100â1.000 | Sicherheitskritische Chemieprozesse |
| SIL 3 | 10â»Âł bis 10â»âŽ | 10â»â· bis 10â»âž/h | 1.000â10.000 | Hochkritische Anlagen, Ăl & Gas |
| SIL 4 | 10â»âŽ bis 10â»â” | 10â»âž bis 10â»âč/h | 10.000â100.000 | Kerntechnik, selten in der Prozessindustrie |
| Merkmal | Low Demand Mode | High Demand / Continuous Mode |
|---|---|---|
| Anforderungsrate | Max. 1Ă pro Jahr | HĂ€ufiger als 1Ă pro Jahr |
| MaĂgebliche KenngröĂe | PFD | PFH (Probability of Failure per Hour) |
| Typisches Beispiel | Notabsperrventil | Kontinuierlicher Gasdetektor |
| KenngröĂe | Vollbezeichnung | Bedeutung |
|---|---|---|
| HFT | Hardware Fault Tolerance | Tolerierbare Hardwarefehler ohne Verlust der Sicherheitsfunktion |
| SFF | Safe Failure Fraction | Anteil der AusfÀlle ohne gefÀhrlichen Zustand (in %) |
| MTBF | Mean Time Between Failures | Mittlere Betriebsdauer zwischen zwei AusfÀllen |
| DC | Diagnostic Coverage | Anteil gefÀhrlicher AusfÀlle, die durch Eigendiagnose erkannt werden |
| PFDavg | Average PFD | Mittlerer PFD ĂŒber das PrĂŒfintervall â maĂgeblich fĂŒr SIL-Nachweis |
SFF und HFT zusammen bestimmen das maximal erreichbare SIL eines GerĂ€tes. Ein hoher SFF (> 90%) erlaubt bei einfacher Architektur (HFT = 0) trotzdem SIL 2 â geregelt in IEC 61508 Teil 2.
Druck- und Temperaturtransmitter werden weltweit in Millionen von Installationen eingesetzt. Diese Masse fĂŒhrt zu gut belegten PFD-Werten, standardisierten PrĂŒfverfahren und etablierten Kalibrierprozessen.
Prozessanalysatoren befinden sich in einer grundlegend anderen Situation:
| Merkmal | Druck-/Temperaturtransmitter | Prozessanalysator |
|---|---|---|
| Installationszahl weltweit | Millionen | Hunderte bis Tausende |
| Felddatenbasis fĂŒr PFD | Sehr groĂ, gut belegt | Begrenzt, oft applikationsspezifisch |
| Einfluss der Chemie auf Messung | Gering â Physik dominiert | Hoch â Querempfindlichkeiten, Matrixeffekte |
| Kalibrieraufwand | Gering, standardisierbar | Mittel bis hoch, applikationsspezifisch |
| Probenaufbereitung | Nicht erforderlich | HĂ€ufig notwendig (Filter, KĂŒhler, Konditionierung) |
| Fehlerquellen | Mechanisch, Membranbruch, Drift | Chemisch, optisch, mechanisch, matrixbedingt |
| PrĂŒfverfahren im Betrieb | Einfach (Referenzdruck anlegen) | Komplex (Referenzgas, Standardlösung) |
| Validierungsstudien | Selten erforderlich | HĂ€ufig notwendig |
Der entscheidende Unterschied: Beim Drucktransmitter ist Physik das Messprinzip â robust gegenĂŒber ProzessĂ€nderungen. Beim Analysator ist die Chemie des Prozessmediums direkt in das Messprinzip eingebunden. Ein Begleitstoff, der nicht in der Spezifikation stand, kann das Messergebnis signifikant verfĂ€lschen â ohne dass das GerĂ€t einen Fehler anzeigt. Das ist ein stiller Fehler, der in SIL-Anwendungen besonders kritisch ist.
Eine Querempfindlichkeit liegt vor, wenn ein Analysator nicht nur auf die Zielkomponente reagiert, sondern auch auf andere Stoffe im Prozessmedium â und dadurch einen verfĂ€lschten Messwert ausgibt, ohne als fehlerhaft erkannt zu werden.
| Messprinzip | Zielkomponente | Mögliche Querempfindlichkeit |
|---|---|---|
| NDIR (Infrarot) | CO | COâ, HâO, CHâ (spektrale Ăberlappung) |
| Elektrochemisch | Oâ | HâS, SOâ, Clâ (Sensorvergiftung) |
| Paramagnetisch | Oâ | NO, NOâ (ebenfalls paramagnetisch) |
| UV-Fluoreszenz | SOâ | Aromatische Kohlenwasserstoffe |
| TDLS | HâO, Oâ, NHâ, CO | DruckabhĂ€ngigkeit, Temperatureffekte auf Absorptionslinien |
| WĂ€rmeleitfĂ€higkeit | Hâ, He, COâ | Alle Gase mit abweichender WĂ€rmeleitfĂ€higkeit |
| NIR-Spektroskopie | Feuchte, Konzentrationen | Partikelstreuung, Temperatur, Matrixvarianz |
Konsequenz fĂŒr SIL: Querempfindlichkeiten mĂŒssen systematisch untersucht, dokumentiert und quantifiziert werden. Ohne diese Validierung kann kein belastbarer PFD-Wert angegeben â und kein SIL-Nachweis gefĂŒhrt werden.
Ein zentrales Konzept der funktionalen Sicherheit ist die Unterscheidung zwischen erkannten und unerkannten Fehlern:
Detected Error (erkannter Fehler): Das GerĂ€t erkennt seinen eigenen Ausfall â durch Eigendiagnose, PlausibilitĂ€tsprĂŒfung oder SignalbereichsĂŒberwachung â und gibt ein eindeutiges Fehlersignal aus (z.B. Alarmsignal, 3,6 mA Fehlerstrom nach NAMUR NE 43). Der Sicherheitskreis weiĂ: dieser Kanal ist ausgefallen. Die Situation ist beherrschbar.
Undetected Error (unerkannter Fehler): Das GerĂ€t hat einen Fehler, aber es zeigt keinen an. Es gibt weiterhin einen Messwert aus â der aber falsch ist. Der Sicherheitskreis "glaubt", alles sei in Ordnung. Im Ernstfall löst die Schutzfunktion nicht aus, obwohl sie sollte.
| Fehlertyp | Signalverhalten | Konsequenz fĂŒr den Sicherheitskreis |
|---|---|---|
| Detected Error | Fehlersignal, Alarm, definierter Ausgang | Ausfall bekannt â Wartung wird eingeleitet, System arbeitet mit verbleibenden KanĂ€len |
| Undetected Error | Scheinbar normaler Messwert, aber falsch | Ausfall unbekannt â im Ernstfall versagt die Schutzfunktion still |
Warum unerkannte Fehler das eigentliche SIL-Problem sind: Der PFD-Wert eines GerĂ€tes wird maĂgeblich durch die Rate gefĂ€hrlicher unerkannter AusfĂ€lle (λDU â Dangerous Undetected Failure Rate) bestimmt. Je höher dieser Wert, desto schlechter der PFD, desto schwieriger der SIL-Nachweis. Eine hohe Diagnostic Coverage (DC) â also die FĂ€higkeit des GerĂ€tes, eigene Fehler zu erkennen â reduziert λDU direkt und verbessert damit den erreichbaren PFD erheblich.
FĂŒr Prozessanalysatoren besonders kritisch: Ein Analysator kann "korrekt messen" im technischen Sinne â kein GerĂ€tefehler, kein Elektronikausfall â aber durch eine Querempfindlichkeit einen systematisch falschen Wert liefern. Das ist der gefĂ€hrlichste Fall: kein Fehlersignal, aber falsche Information. Genau deshalb sind Querempfindlichkeitsstudien in SIL-Projekten mit Analysatoren nicht optional.
In der chemischen Industrie werden GerĂ€te nicht nur auf Messgenauigkeit und Querempfindlichkeiten geprĂŒft. FĂŒr eine SIL-Qualifizierung mĂŒssen StörgröĂen systematisch getestet werden, die aus der Umgebung kommen â und die viele GerĂ€te aus dem SIL-Rennen werfen:
Elektromagnetische VertrĂ€glichkeit (EMV): Prozessumgebungen enthalten starke elektromagnetische Felder â Frequenzumrichter, groĂe Motoren, SchweiĂgerĂ€te, Hochspannungsleitungen. Ein Analysator, dessen Messwert oder Steuerungselektronik durch elektromagnetische Einstreuung beeinflusst wird, kann unerkannte Fehler produzieren. EMV-PrĂŒfung nach IEC 61000 ist fĂŒr SIL-GerĂ€te Pflicht â und nicht alle GerĂ€te bestehen diese Tests.
Software und Firmware: Moderne Analysatoren enthalten komplexe Software â fĂŒr Signalverarbeitung, Kalibrierung, Eigendiagnose und Kommunikation. Softwarefehler sind systematische Fehler: Sie betreffen alle GerĂ€te desselben Typs gleichzeitig, sind nicht durch Hardware-Redundanz beherrschbar und schwer zu erkennen. IEC 61508 Teil 3 regelt die Softwareentwicklung fĂŒr sicherheitsgerichtete Systeme mit eigenen Anforderungen an Entwicklungsprozess, Testabdeckung und Dokumentation. Viele Hersteller unterschĂ€tzen diesen Aufwand â und scheitern genau hier beim SIL-Assessment.
TemperatureinflĂŒsse auf den Sensor: Umgebungstemperatur und Prozesstemperatur können Messwerte direkt beeinflussen â durch thermische Ausdehnung mechanischer Teile, Ănderung elektrischer Eigenschaften, Verschiebung optischer Eigenschaften oder Beeinflussung des Referenzelements. Ein Sensor, dessen Messwert sich bei TemperaturĂ€nderung im Prozess oder in der Umgebung systematisch verschiebt, hat eine Querempfindlichkeit gegenĂŒber Temperatur. Das muss quantifiziert, kompensiert oder als Fehlerquelle im PFD-Wert berĂŒcksichtigt werden.
Vibration und mechanische Belastung: In der NĂ€he von Pumpen, Kompressoren oder MĂŒhlen können Vibrationen Sensoren mechanisch belasten und zu beschleunigtem VerschleiĂ oder verĂ€nderten Messwerten fĂŒhren.
| StörgröĂe | PrĂŒfnorm (Auswahl) | Typischer Ausschlussgrund |
|---|---|---|
| Elektromagnetische Einstrahlung | IEC 61000-4 Serie | Messwertverschiebung durch Feldeinfluss |
| LeitungsgefĂŒhrte Störungen | IEC 61000-4-4, -4-5 | Signalstörungen auf Messleitungen |
| Software / Firmware | IEC 61508 Teil 3 | Nicht ausreichend getestete Softwarepfade |
| Umgebungstemperatur | IEC 60068-2 | Drift auĂerhalb der Spezifikation bei Extremtemperaturen |
| Vibration | IEC 60068-2-6 | Mechanischer VerschleiĂ, SignalinstabilitĂ€t |
| Feuchtigkeit | IEC 60068-2-78 | Korrosion, Kriechströme, Isolationsversagen |
Praktische Konsequenz: SIL-Qualifizierungsprojekte fĂŒr Prozessanalysatoren scheitern hĂ€ufig nicht an der Messleistung des GerĂ€tes, sondern an diesen UmgebungsprĂŒfungen. Ein Analysator, der im Labor perfekt misst, kann in der rauen Prozessumgebung â mit Vibration, EMV-Einstreuung und Temperaturschwankungen â einen systematisch falschen Wert liefern, ohne es anzuzeigen. Diese Tests mĂŒssen vor dem SIL-Assessment abgeschlossen sein â nicht danach.
TDLS (Tunable Diode Laser Spectroscopy) hat sich in den letzten 20 Jahren als eines der zuverlĂ€ssigsten Messprinzipien fĂŒr In-situ-Gasmessung in rauen Prozessumgebungen etabliert. Das Vertrauen in die Technologie ist heute so groĂ, dass TDLS-Systeme zunehmend direkt in SIL-relevante PAT-Anwendungen eingebunden werden.
| Eigenschaft | Bedeutung fĂŒr SIL |
|---|---|
| Hochselektiv | Gasspezifische Absorptionslinien â kaum Querempfindlichkeiten bei richtiger WellenlĂ€ngenwahl |
| In-situ-Messung | Keine Probenentnahme, keine Probenleitung â weniger Fehlerquellen |
| Keine Verbrauchsstoffe | Kein Referenzgas, keine Reagenzien â geringerer Wartungsaufwand |
| Integrierte Eigendiagnose | Laserleistung und optische QualitĂ€t werden kontinuierlich ĂŒberwacht â hohe DC |
| DruckabhÀngigkeit beherrschbar | Bei bekanntem Prozessdruck kompensierbar |
| Wachsende Felddatenbasis | 20+ Jahre Industrieeinsatz, zunehmend belastbare PFD-Werte |
Typische TDLS-Anwendungen in SIL-Kontext:
Grenzen von TDLS:
FĂŒr Drucktransmitter reicht der Nachweis durch TypprĂŒfung und BetriebsbewĂ€hrung. FĂŒr Prozessanalysatoren in SIL-Anwendungen reicht das oft nicht:
1. Fehlende Felddatenbasis: Ein PFD-Wert ohne ausreichende statistische Basis ist nicht belastbar.
2. Applikationsspezifische EinflĂŒsse: Derselbe Analysator verhĂ€lt sich in Erdgas anders als in Synthesegas. Die Prozessmatrix beeinflusst das Messergebnis auf eine Weise, die nur durch applikationsspezifische Tests quantifiziert werden kann.
| PrĂŒfpunkt | Ziel der Validierung |
|---|---|
| Querempfindlichkeitsanalyse | Alle relevanten Begleitstoffgruppen systematisch testen |
| LangzeitstabilitĂ€t / Drift | PFD-relevante Driftrate ĂŒber den PrĂŒfzyklus bestimmen |
| UmgebungseinflĂŒsse | Temperatur, Vibration, EMV auf Messergebnis prĂŒfen |
| Probenaufbereitungsausfall | Was passiert bei Filterausfall, Pumpenausfall? |
| Fail-Safe-Verhalten | Welchen Zustand nimmt der Analysator bei Eigenausfall ein? |
| KalibrierbestĂ€ndigkeit | StabilitĂ€t der Kalibrierung zwischen zwei PrĂŒfzyklen |
| SIL-Stufe | Zertifizierungsweg | Beispiele |
|---|---|---|
| SIL 1 | HerstellererklÀrung möglich | Intern mit Nachweis |
| SIL 2 | HerstellererklĂ€rung möglich | Intern oder optional TĂV/Exida |
| SIL 3 | Externe Zertifizierung zwingend | TĂV Rheinland, TĂV SĂD, Exida, Bureau Veritas |
| SIL 4 | Externe Zertifizierung zwingend | Spezialisierte akkreditierte Stellen |
Vereinfachte Formel: PFDavg â λDU Ă Ti / 2
(λDU = Rate gefĂ€hrlicher unentdeckter AusfĂ€lle, Ti = PrĂŒfintervall)
| PrĂŒfintervall | Auswirkung auf PFDavg | Auswirkung auf Betrieb |
|---|---|---|
| Kurz (3 Monate) | PFDavg sinkt, SIL steigt | Hoher Wartungsaufwand |
| Mittel (1 Jahr) | Standard fĂŒr SIL-2-Anwendungen | Balance aus Sicherheit und VerfĂŒgbarkeit |
| Lang (4 Jahre) | PFDavg steigt | Geringe Wartungslast, höhere GerÀteanforderungen |
| Standard | Anwendungsbereich |
|---|---|
| IEC 61508 (DIN EN 61508) | Grundnorm â E/E/PE-Systeme |
| IEC 61511 (DIN EN 61511) | Prozessindustrie â SIS, Chemie, Petrochemie, Pharma |
| IEC 62061 | Maschinenbau |
| VDI/VDE 2180 | Sicherung verfahrenstechnischer Anlagen (DACH) |
| NAMUR NE 79 | FeldgerÀte in sicherheitsinstrumentierten Systemen |
| NAMUR NE 43 | Einheitssignale fĂŒr Analysatoren bei Fehler (Fail-Safe) |
| IEC 60079 | Explosionsschutz (ATEX) â Ăberschneidung mit SIL bei Gasdetektoren |
Was ist der Unterschied zwischen SIL und PFD?
SIL ist die Stufe (1â4), PFD ist der numerische Wert dahinter. SIL 2 bedeutet, dass die Ausfallwahrscheinlichkeit zwischen 10â»Âł und 10â»ÂČ liegt. PFD ist Datenbasis, SIL ist normative Einordnung.
Warum ist ein Prozessanalysator schwieriger fĂŒr SIL zu qualifizieren als ein Drucksensor?
Drucksensoren haben eine riesige Felddatenbasis und physikalisch robuste Messprinzipien. Analysatoren messen in chemisch aktiven Medien â Querempfindlichkeiten, Matrixeffekte und begrenzte Felddaten machen applikationsspezifische Validierungsstudien oft unvermeidlich.
Was ist diversitÀre Redundanz und wann ist sie notwendig?
Zwei völlig verschiedene Messprinzipien fĂŒr dieselbe MessgröĂe â um systematische Fehler auszuschlieĂen. Aufwendig und teuer, aber in Hochrisikoapplikationen mit unkontrollierbaren Querempfindlichkeiten manchmal der einzig sichere Weg.
Warum gewinnt TDLS in SIL-Anwendungen an Bedeutung?
Hohe SelektivitĂ€t, keine Verbrauchsstoffe, In-situ-Messung ohne Probenaufbereitung, integrierte Eigendiagnose mit hoher Diagnostic Coverage und ĂŒber 20 Jahre Felderfahrung machen TDLS zu einem zunehmend vertrauenswĂŒrdigen Messprinzip fĂŒr sicherheitsrelevante Anwendungen.
Was sind typische Fehler bei SIL-Projekten mit Analysatoren?
Erstens: GerĂ€t SIL-zertifiziert, aber Gesamtkreis nicht nachgewiesen. Zweitens: Querempfindlichkeiten nicht systematisch untersucht. Drittens: PrĂŒfintervall zu lang gewĂ€hlt, PFDavg verfehlt die SIL-Anforderung. Viertens: Probenaufbereitung nicht in die Sicherheitsbetrachtung einbezogen.
Was bedeutet 2oo3-Abstimmung konkret?
Drei Sensoren messen dieselbe GröĂe. Zwei von drei mĂŒssen ĂŒbereinstimmend ansprechen, um die Schutzaktion auszulösen. Fehlalarme durch EinzelausreiĂer werden vermieden, Wartung eines Sensors im Betrieb ist möglich.
Muss jeder Analysator im SIL-Kreis zertifiziert sein?
Er muss die SIL-Anforderungen erfĂŒllen â durch formale Zertifizierung oder BetriebsbewĂ€hrungsnachweis. Bei Analysatoren mit begrenzter Felddatenbasis ist eine formale Zertifizierung oft der praktischere Weg.
Was ist ein unerkannter Fehler und warum ist er so gefÀhrlich?
Ein unerkannter (undetected) Fehler liegt vor, wenn ein GerĂ€t einen falschen Messwert ausgibt, ohne einen Alarm oder ein Fehlersignal zu erzeugen. Der Sicherheitskreis "glaubt", alles sei in Ordnung â im Ernstfall löst die Schutzfunktion nicht aus. Der PFD-Wert eines GerĂ€tes wird maĂgeblich durch die Rate gefĂ€hrlicher unerkannter AusfĂ€lle bestimmt. Je höher die Diagnostic Coverage (DC), desto mehr Fehler erkennt das GerĂ€t selbst â und desto besser der PFD.
Warum fallen viele Analysatoren bei der SIL-Qualifizierung durch EMV- und Temperaturtests?
Prozessumgebungen enthalten starke elektromagnetische Felder und Temperaturschwankungen, die Messwerte beeinflussen können â ohne dass das GerĂ€t einen Fehler anzeigt. Das sind unerkannte Fehler. EMV-PrĂŒfungen nach IEC 61000 und Umgebungstests nach IEC 60068 sind fĂŒr SIL-GerĂ€te Pflicht. Viele GerĂ€te, die im Labor einwandfrei messen, scheitern an diesen Umgebungsanforderungen.
Warum ist Software ein SIL-Risikofaktor?
Softwarefehler sind systematische Fehler â sie betreffen alle GerĂ€te desselben Typs gleichzeitig und sind durch Hardware-Redundanz nicht beherrschbar. IEC 61508 Teil 3 stellt eigene Anforderungen an Softwareentwicklung, Testabdeckung und Dokumentation fĂŒr sicherheitsgerichtete Systeme. Viele Hersteller unterschĂ€tzen diesen Aufwand und scheitern beim SIL-Assessment an der Softwaredokumentation.
NE 43 definiert Einheitssignale fĂŒr Analysatoren im Fehlerfall (z.B. < 3,6 mA als Fehlersignal). In SIL-Anwendungen ist das Fail-Safe-Verhalten entscheidend: Geht der Analysator bei Eigenausfall in einen erkannten, sicheren Zustand?
| Norm | Titel | Relevanz fĂŒr diesen Artikel |
|---|---|---|
| IEC 61508 (DIN EN 61508) | Functional Safety of E/E/PE Safety-related Systems | Grundnorm, SIL-Definition, PFD, HFT, SFF, DC |
| IEC 61508-3 | Software Requirements for Safety Systems | Softwareanforderungen fĂŒr sicherheitsgerichtete Systeme |
| IEC 61511 (DIN EN 61511) | Safety Instrumented Systems for the Process Industry | SIS in der Prozessindustrie, HAZOP-Integration |
| IEC 61000 (Serie) | Elektromagnetische VertrĂ€glichkeit (EMV) | EMV-Anforderungen fĂŒr SIL-GerĂ€te |
| IEC 60068 (Serie) | UmweltprĂŒfungen | Temperatur, Vibration, Feuchtigkeit â Umgebungsqualifizierung |
| IEC 60079 | Explosionsschutz (ATEX) | Ăberschneidung mit SIL bei Gasdetektoren und Ex-Bereichen |
| IEC 62061 | Funktionale Sicherheit im Maschinenbau | Vergleichsnorm zur IEC 61508/61511 |
| Standard | Herausgeber | Inhalt |
|---|---|---|
| VDI/VDE 2180 | VDI/VDE | Sicherung von Anlagen der Prozessindustrie â DACH-spezifische Umsetzung |
| NAMUR NE 43 | NAMUR | Einheitssignale fĂŒr Prozessanalysatoren â Fail-Safe-Verhalten (4â20 mA) |
| NAMUR NE 79 | NAMUR | Einsatz von FeldgerÀten in sicherheitsinstrumentierten Systemen |
| Organisation | Ressource |
|---|---|
| exida (www.exida.com) | SIL-Daten, Failure Rates, GerÀteassessments, FMEDA-Datenbank |
| TĂV SĂD / TĂV Rheinland | Zertifizierungsrichtlinien, Whitepapers zu SIL-Bewertungen |
| NAMUR (www.namur.net) | Empfehlungen fĂŒr Prozessindustrie, NE-Reihe |
| HSE (UK Health and Safety Executive) | Human Factors and Functional Safety Reports |
| ISA (International Society of Automation) | ISA-84 â US-amerikanisches Pendant zu IEC 61511 |
| Quelle | Inhalt |
|---|---|
| ASTM E1655 | PrĂŒfverfahren fĂŒr multivariate quantitative Analyse im Nahinfrarot â Grundlage fĂŒr NIR in der Prozessanalytik |
| ISO 10723 | Leistungsbewertung von Analysensystemen in der Erdgasindustrie â Methodik ĂŒbertragbar auf Prozessanalysatoren allgemein |
| ISO 13528 | Statistische Methoden zur Beurteilung analytischer Verfahren durch Ringversuche â relevant fĂŒr Validierungsstudien |
| Hersteller-Safety-Manuals und SIL-Zertifikate | GerĂ€tespezifische PFD-Werte und SicherheitskenngröĂen sind ausschlieĂlich den offiziellen Safety Manuals und Zertifikaten des jeweiligen Herstellers zu entnehmen. Zu beziehen direkt beim Hersteller oder ĂŒber akkreditierte Zertifizierungsstellen wie exida oder TĂV. |
| AIChE CCPS | LeitfĂ€den zur Prozesssicherheit in der chemischen und petrochemischen Industrie â relevant fĂŒr Gasanalytik in SIL-Umgebungen |
Hinweis: Normen werden regelmĂ€Ăig ĂŒberarbeitet. FĂŒr SIL-Nachweise sind stets die zum Zeitpunkt der Planung gĂŒltigen Ausgaben maĂgeblich. Die hier genannten Ausgaben entsprechen dem Stand Mai 2026.
SIL und PFD sind unverzichtbare KenngröĂen fĂŒr jeden, der Prozessanalysatoren in sicherheitsrelevante Schutzkreise einbinden will. Die Besonderheiten von Analysatoren â chemische EinflĂŒsse, Querempfindlichkeiten, begrenzte Felddatenbasis, komplexe Probenaufbereitung â erfordern eine systematischere Qualifizierung als bei Druck- und Temperaturtransmittern.
TDLS hat sich als Technologie mit wachsendem SIL-Vertrauen etabliert. DiversitĂ€re Redundanz bleibt die Ausnahme â aber eine notwendige, wenn systematische Fehler nicht ausgeschlossen werden können.
Der SIL-Nachweis ist immer eine Systemaufgabe â nicht die Aufgabe eines einzelnen GerĂ€tes.
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Dusko Kadijevic | DK Consulting | Publisher Analytic Journal | analyticjournal.de | +491733129816
Verfasst Mai 2026. NormĂ€nderungen sind möglich â aktuelle Normausgaben sind maĂgeblich.
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Redaktioneller Hinweis
Dieser Artikel wurde nach bestem Wissen und Gewissen auf Basis öffentlich verfĂŒgbarer Fachinformationen, Normen und Herstellerangaben erstellt. Technische Spezifikationen können sich Ă€ndern â fĂŒr verbindliche Angaben konsultieren Sie aktuelle HerstellerdatenblĂ€tter und zustĂ€ndige Normungsgremien. Analytic Journal erstellt redaktionellen Content unabhĂ€ngig von Herstellern und Werbepartnern.
Autor: Dusko Kadijevic â 20 Jahre Erfahrung als PAT-Anwender in der Prozessindustrie