SicherheitstechnikFachartikel

    SIL und PFD — Funktionale Sicherheit fĂŒr Prozessanalysatoren

    Kategorie: Funktionale Sicherheit | Prozessanalytik | PLT-Schutzeinrichtungen | PAT
    Autor: Dusko Kadijevic, Publisher Analytic Journal
    Zuletzt aktualisiert: Mai 2026
    Lesezeit: ca. 10 Minuten


    Definitionen

    SIL (Safety Integrity Level): Diskrete Stufe (1–4) zur Beschreibung der ZuverlĂ€ssigkeitsanforderung an eine Sicherheitsfunktion in E/E/PE-Systemen. SIL 4 ist die höchste, SIL 1 die niedrigste Stufe.

    PFD (Probability of Failure on Demand): Mittlere Wahrscheinlichkeit, dass eine Sicherheitsfunktion im Anforderungsfall versagt.

    SIS (Safety Instrumented System): Gesamtsystem aus Sensor, Logikeinheit und Aktor.

    PLT-Schutzeinrichtung: Deutsche Bezeichnung fĂŒr sicherheitsgerichtete prozeßleittechnische Einrichtungen — funktional identisch mit SIS.


    Teil 1: Wie ist ein Sicherheitssystem praktisch aufgebaut?

    Der Sicherheitskreis — Sensor, Logik, Aktor

    Jede Sicherheitsfunktion wird durch einen Sicherheitskreis realisiert. Das schwÀchste Glied bestimmt den erreichbaren SIL des Gesamtsystems:

    ElementFunktionTypische GerÀte in der Prozessanalytik
    Sensor / AnalysatorErfasst die sicherheitsrelevante ProzessgrĂ¶ĂŸeTOC-Analysator, Gasdetektor, O₂-Sensor, TDLS-System, pH-Transmitter
    Logikeinheit (SPS)Bewertet Signal, entscheidet ĂŒber SchutzaktionSicherheits-SPS nach IEC 61511
    AktorFĂŒhrt Schutzaktion ausSicherheitsventil, Abschaltrelais, Alarm

    Was bedeuten die SIL-Level konkret? SIL steht fĂŒr Safety Integrity Level — eine Skala von 1 bis 4, die beschreibt, wie zuverlĂ€ssig eine Sicherheitsfunktion im Ernstfall funktionieren muss. SIL 1 ist die niedrigste Anforderung: Die Funktion darf in maximal 1 von 10 AnforderungsfĂ€llen versagen. SIL 2 verlangt eine zehnfach höhere ZuverlĂ€ssigkeit: maximal 1 von 100. SIL 3 nochmals zehnfach strenger, SIL 4 ist die höchste Stufe. Die genauen Zahlenwerte — die PFD-Bereiche — folgen in Teil 2 dieser Seite.

    Grundsatz: Jedes Element des Sicherheitskreises — Sensor, Logik und Aktor — muss die Anforderung des angestrebten SIL erfĂŒllen. Ein Sensor, der SIL 2 erfĂŒllt, ein Aktor, der nur SIL 1 erfĂŒllt: Das Gesamtsystem erreicht nur SIL 1 — begrenzt durch das schwĂ€chste Glied. Es hilft also nichts, einen hochzertifizierten Analysator einzusetzen, wenn das Ventil am Ende der Kette die Anforderungen nicht erfĂŒllt. Die Systembetrachtung des gesamten Kreises ist Pflicht.


    Redundanzarchitekturen: 1oo1, 1oo2, 2oo3

    Die Notation "MooN" bedeutet: M von N KanĂ€len mĂŒssen das Signal bestĂ€tigen, um die Schutzaktion auszulösen.

    ArchitekturBedeutungFehlertoleranzVerfĂŒgbarkeitTypischer Einsatz
    1oo11 von 1Kein Fehler toleriertHochSIL 1, einfache Schutzfunktionen
    1oo21 von 2Ein Sensor darf ausfallenMittelSIL 2–3, hohe Sicherheitsanforderung
    2oo22 von 2Kein Fehler toleriertSehr hochHohe VerfĂŒgbarkeit, geringere Sicherheit
    2oo32 von 3Ein Sensor darf ausfallen oder Fehlsignal gebenHochSIL 2–3, optimale Balance

    2oo3 in der Praxis: Drei Sensoren messen dieselbe GrĂ¶ĂŸe. Ein Ausreißer wird durch Mehrheitsentscheid erkannt. FĂ€llt ein Sensor aus, lĂ€uft das System weiter. Erst wenn zwei ĂŒbereinstimmend ansprechen, wird die Schutzaktion ausgelöst. Das verhindert Fehlalarme und ermöglicht Wartung im laufenden Betrieb.


    DiversitĂ€re Redundanz — zwei Messprinzipien fĂŒr ein Messziel

    Standardredundanz schĂŒtzt vor GerĂ€teausfall, aber nicht vor systematischen Fehlern — Querempfindlichkeiten, die alle identischen Sensoren eines 2oo3-Systems gleichzeitig verfĂ€lschen.

    DiversitÀre Redundanz setzt zwei völlig verschiedene Messprinzipien ein:

    Beispiel O₂-Messung in einem Inertisierungskreis:

    • Kanal 1: Paramagnetischer Sauerstoffsensor (Online-Prinzip)
    • Kanal 2: TDLS (Tunable Diode Laser Spectroscopy, Inline-Prinzip)

    Beide Prinzipien sind physikalisch so verschieden, dass eine gemeinsame StörgrĂ¶ĂŸe beide gleichzeitig verfĂ€lscht, praktisch ausgeschlossen ist.

    Ein wichtiger praktischer Unterschied zwischen den beiden KanĂ€len: Der paramagnetische Sauerstoffsensor ist ein Online-GerĂ€t — er benötigt eine Probenaufbereitung: Probenleitung, Filter, KĂŒhler, Druckregler und eine Gasdosierpumpe oder einen Durchflussmesser, der den Probengasstrom zum Sensor transportiert. Diese Hilfskomponenten sind Teil des Sicherheitskreises und mĂŒssen ebenfalls in die SIL-Betrachtung einbezogen werden — ein Filterausfall oder ein Pumpenstopp macht den Sensor blind, ohne dass er selbst einen Fehler anzeigt.

    Das TDLS-System hingegen misst inline, direkt im Prozessrohr — ohne Probenentnahme, ohne Probenleitung, ohne Pumpe. Das reduziert die Anzahl sicherheitsrelevanter Hilfskomponenten erheblich und vereinfacht die SIL-Betrachtung.

    Hinweis: Die Unterschiede zwischen Online- und Inline-Messprinzipien, ihre jeweiligen Vor- und Nachteile in SIL-Applikationen sowie die Einbindung von Durchflussmessern in Sicherheitskreise werden in einem separaten Artikel auf Analytic Journal vertieft.

    AspektStandard-Redundanz (gleicher Typ)DiversitÀre Redundanz (zwei Prinzipien)
    InvestitionskostenMittelHoch
    KalibrierungEin VerfahrenZwei Verfahren, zwei Standards
    WartungEinheitlichZwei Konzepte, zwei Ersatzteilhaltungen
    Schutz vor systematischen FehlernBegrenztSehr hoch
    ValidierungsaufwandStandardUmfangreich — beide Prinzipien

    Fazit: DiversitĂ€re Redundanz ist kein Standardweg, sondern Ausnahme fĂŒr Hochrisikoapplikationen, bei denen systematische Fehler nicht ausgeschlossen werden können. Der Aufwand ist erheblich und muss im HAZOP-Prozess explizit begrĂŒndet werden.


    Teil 2: SIL-Stufen und PFD-Werte

    Die vier SIL-Stufen

    SIL-StufePFD-Bereich (Low Demand)PFH-Bereich (High Demand)RisikominderungsfaktorTypische Anwendung
    SIL 110⁻Âč bis 10⁻ÂČ10⁻⁔ bis 10⁻⁶/h10–100Allgemeine ProzessĂŒberwachung
    SIL 210⁻ÂČ bis 10⁻³10⁻⁶ bis 10⁻⁷/h100–1.000Sicherheitskritische Chemieprozesse
    SIL 310⁻³ bis 10⁻⁎10⁻⁷ bis 10⁻⁞/h1.000–10.000Hochkritische Anlagen, Öl & Gas
    SIL 410⁻⁎ bis 10⁻⁔10⁻⁞ bis 10⁻âč/h10.000–100.000Kerntechnik, selten in der Prozessindustrie

    Betriebsarten: Low Demand vs. High Demand

    MerkmalLow Demand ModeHigh Demand / Continuous Mode
    AnforderungsrateMax. 1× pro JahrHĂ€ufiger als 1× pro Jahr
    Maßgebliche KenngrĂ¶ĂŸePFDPFH (Probability of Failure per Hour)
    Typisches BeispielNotabsperrventilKontinuierlicher Gasdetektor

    Teil 3: Weitere KenngrĂ¶ĂŸen

    KenngrĂ¶ĂŸeVollbezeichnungBedeutung
    HFTHardware Fault ToleranceTolerierbare Hardwarefehler ohne Verlust der Sicherheitsfunktion
    SFFSafe Failure FractionAnteil der AusfÀlle ohne gefÀhrlichen Zustand (in %)
    MTBFMean Time Between FailuresMittlere Betriebsdauer zwischen zwei AusfÀllen
    DCDiagnostic CoverageAnteil gefÀhrlicher AusfÀlle, die durch Eigendiagnose erkannt werden
    PFDavgAverage PFDMittlerer PFD ĂŒber das PrĂŒfintervall — maßgeblich fĂŒr SIL-Nachweis

    SFF und HFT zusammen bestimmen das maximal erreichbare SIL eines GerĂ€tes. Ein hoher SFF (> 90%) erlaubt bei einfacher Architektur (HFT = 0) trotzdem SIL 2 — geregelt in IEC 61508 Teil 2.


    Teil 4: Besonderheiten von Prozessanalysatoren in SIL-Anwendungen

    Analysatoren vs. Druck- und Temperatursensoren

    Druck- und Temperaturtransmitter werden weltweit in Millionen von Installationen eingesetzt. Diese Masse fĂŒhrt zu gut belegten PFD-Werten, standardisierten PrĂŒfverfahren und etablierten Kalibrierprozessen.

    Prozessanalysatoren befinden sich in einer grundlegend anderen Situation:

    MerkmalDruck-/TemperaturtransmitterProzessanalysator
    Installationszahl weltweitMillionenHunderte bis Tausende
    Felddatenbasis fĂŒr PFDSehr groß, gut belegtBegrenzt, oft applikationsspezifisch
    Einfluss der Chemie auf MessungGering — Physik dominiertHoch — Querempfindlichkeiten, Matrixeffekte
    KalibrieraufwandGering, standardisierbarMittel bis hoch, applikationsspezifisch
    ProbenaufbereitungNicht erforderlichHĂ€ufig notwendig (Filter, KĂŒhler, Konditionierung)
    FehlerquellenMechanisch, Membranbruch, DriftChemisch, optisch, mechanisch, matrixbedingt
    PrĂŒfverfahren im BetriebEinfach (Referenzdruck anlegen)Komplex (Referenzgas, Standardlösung)
    ValidierungsstudienSelten erforderlichHĂ€ufig notwendig

    Der entscheidende Unterschied: Beim Drucktransmitter ist Physik das Messprinzip — robust gegenĂŒber ProzessĂ€nderungen. Beim Analysator ist die Chemie des Prozessmediums direkt in das Messprinzip eingebunden. Ein Begleitstoff, der nicht in der Spezifikation stand, kann das Messergebnis signifikant verfĂ€lschen — ohne dass das GerĂ€t einen Fehler anzeigt. Das ist ein stiller Fehler, der in SIL-Anwendungen besonders kritisch ist.


    Querempfindlichkeiten — die zentrale Herausforderung

    Eine Querempfindlichkeit liegt vor, wenn ein Analysator nicht nur auf die Zielkomponente reagiert, sondern auch auf andere Stoffe im Prozessmedium — und dadurch einen verfĂ€lschten Messwert ausgibt, ohne als fehlerhaft erkannt zu werden.

    MessprinzipZielkomponenteMögliche Querempfindlichkeit
    NDIR (Infrarot)COCO₂, H₂O, CH₄ (spektrale Überlappung)
    ElektrochemischO₂H₂S, SO₂, Cl₂ (Sensorvergiftung)
    ParamagnetischO₂NO, NO₂ (ebenfalls paramagnetisch)
    UV-FluoreszenzSO₂Aromatische Kohlenwasserstoffe
    TDLSH₂O, O₂, NH₃, CODruckabhĂ€ngigkeit, Temperatureffekte auf Absorptionslinien
    WĂ€rmeleitfĂ€higkeitH₂, He, CO₂Alle Gase mit abweichender WĂ€rmeleitfĂ€higkeit
    NIR-SpektroskopieFeuchte, KonzentrationenPartikelstreuung, Temperatur, Matrixvarianz

    Konsequenz fĂŒr SIL: Querempfindlichkeiten mĂŒssen systematisch untersucht, dokumentiert und quantifiziert werden. Ohne diese Validierung kann kein belastbarer PFD-Wert angegeben — und kein SIL-Nachweis gefĂŒhrt werden.


    Detected vs. Undetected Errors — warum unerkannte Fehler so gefĂ€hrlich sind

    Ein zentrales Konzept der funktionalen Sicherheit ist die Unterscheidung zwischen erkannten und unerkannten Fehlern:

    Detected Error (erkannter Fehler): Das GerĂ€t erkennt seinen eigenen Ausfall — durch Eigendiagnose, PlausibilitĂ€tsprĂŒfung oder SignalbereichsĂŒberwachung — und gibt ein eindeutiges Fehlersignal aus (z.B. Alarmsignal, 3,6 mA Fehlerstrom nach NAMUR NE 43). Der Sicherheitskreis weiß: dieser Kanal ist ausgefallen. Die Situation ist beherrschbar.

    Undetected Error (unerkannter Fehler): Das GerĂ€t hat einen Fehler, aber es zeigt keinen an. Es gibt weiterhin einen Messwert aus — der aber falsch ist. Der Sicherheitskreis "glaubt", alles sei in Ordnung. Im Ernstfall löst die Schutzfunktion nicht aus, obwohl sie sollte.

    FehlertypSignalverhaltenKonsequenz fĂŒr den Sicherheitskreis
    Detected ErrorFehlersignal, Alarm, definierter AusgangAusfall bekannt — Wartung wird eingeleitet, System arbeitet mit verbleibenden KanĂ€len
    Undetected ErrorScheinbar normaler Messwert, aber falschAusfall unbekannt — im Ernstfall versagt die Schutzfunktion still

    Warum unerkannte Fehler das eigentliche SIL-Problem sind: Der PFD-Wert eines GerĂ€tes wird maßgeblich durch die Rate gefĂ€hrlicher unerkannter AusfĂ€lle (λDU — Dangerous Undetected Failure Rate) bestimmt. Je höher dieser Wert, desto schlechter der PFD, desto schwieriger der SIL-Nachweis. Eine hohe Diagnostic Coverage (DC) — also die FĂ€higkeit des GerĂ€tes, eigene Fehler zu erkennen — reduziert λDU direkt und verbessert damit den erreichbaren PFD erheblich.

    FĂŒr Prozessanalysatoren besonders kritisch: Ein Analysator kann "korrekt messen" im technischen Sinne — kein GerĂ€tefehler, kein Elektronikausfall — aber durch eine Querempfindlichkeit einen systematisch falschen Wert liefern. Das ist der gefĂ€hrlichste Fall: kein Fehlersignal, aber falsche Information. Genau deshalb sind Querempfindlichkeitsstudien in SIL-Projekten mit Analysatoren nicht optional.


    EMV, Software und UmgebungseinflĂŒsse — StörgrĂ¶ĂŸen die oft unterschĂ€tzt werden

    In der chemischen Industrie werden GerĂ€te nicht nur auf Messgenauigkeit und Querempfindlichkeiten geprĂŒft. FĂŒr eine SIL-Qualifizierung mĂŒssen StörgrĂ¶ĂŸen systematisch getestet werden, die aus der Umgebung kommen — und die viele GerĂ€te aus dem SIL-Rennen werfen:

    Elektromagnetische VertrĂ€glichkeit (EMV): Prozessumgebungen enthalten starke elektromagnetische Felder — Frequenzumrichter, große Motoren, SchweißgerĂ€te, Hochspannungsleitungen. Ein Analysator, dessen Messwert oder Steuerungselektronik durch elektromagnetische Einstreuung beeinflusst wird, kann unerkannte Fehler produzieren. EMV-PrĂŒfung nach IEC 61000 ist fĂŒr SIL-GerĂ€te Pflicht — und nicht alle GerĂ€te bestehen diese Tests.

    Software und Firmware: Moderne Analysatoren enthalten komplexe Software — fĂŒr Signalverarbeitung, Kalibrierung, Eigendiagnose und Kommunikation. Softwarefehler sind systematische Fehler: Sie betreffen alle GerĂ€te desselben Typs gleichzeitig, sind nicht durch Hardware-Redundanz beherrschbar und schwer zu erkennen. IEC 61508 Teil 3 regelt die Softwareentwicklung fĂŒr sicherheitsgerichtete Systeme mit eigenen Anforderungen an Entwicklungsprozess, Testabdeckung und Dokumentation. Viele Hersteller unterschĂ€tzen diesen Aufwand — und scheitern genau hier beim SIL-Assessment.

    TemperatureinflĂŒsse auf den Sensor: Umgebungstemperatur und Prozesstemperatur können Messwerte direkt beeinflussen — durch thermische Ausdehnung mechanischer Teile, Änderung elektrischer Eigenschaften, Verschiebung optischer Eigenschaften oder Beeinflussung des Referenzelements. Ein Sensor, dessen Messwert sich bei TemperaturĂ€nderung im Prozess oder in der Umgebung systematisch verschiebt, hat eine Querempfindlichkeit gegenĂŒber Temperatur. Das muss quantifiziert, kompensiert oder als Fehlerquelle im PFD-Wert berĂŒcksichtigt werden.

    Vibration und mechanische Belastung: In der NĂ€he von Pumpen, Kompressoren oder MĂŒhlen können Vibrationen Sensoren mechanisch belasten und zu beschleunigtem Verschleiß oder verĂ€nderten Messwerten fĂŒhren.

    StörgrĂ¶ĂŸePrĂŒfnorm (Auswahl)Typischer Ausschlussgrund
    Elektromagnetische EinstrahlungIEC 61000-4 SerieMesswertverschiebung durch Feldeinfluss
    LeitungsgefĂŒhrte StörungenIEC 61000-4-4, -4-5Signalstörungen auf Messleitungen
    Software / FirmwareIEC 61508 Teil 3Nicht ausreichend getestete Softwarepfade
    UmgebungstemperaturIEC 60068-2Drift außerhalb der Spezifikation bei Extremtemperaturen
    VibrationIEC 60068-2-6Mechanischer Verschleiß, SignalinstabilitĂ€t
    FeuchtigkeitIEC 60068-2-78Korrosion, Kriechströme, Isolationsversagen

    Praktische Konsequenz: SIL-Qualifizierungsprojekte fĂŒr Prozessanalysatoren scheitern hĂ€ufig nicht an der Messleistung des GerĂ€tes, sondern an diesen UmgebungsprĂŒfungen. Ein Analysator, der im Labor perfekt misst, kann in der rauen Prozessumgebung — mit Vibration, EMV-Einstreuung und Temperaturschwankungen — einen systematisch falschen Wert liefern, ohne es anzuzeigen. Diese Tests mĂŒssen vor dem SIL-Assessment abgeschlossen sein — nicht danach.


    TDLS — ein Messprinzip mit wachsendem SIL-Vertrauen

    TDLS (Tunable Diode Laser Spectroscopy) hat sich in den letzten 20 Jahren als eines der zuverlĂ€ssigsten Messprinzipien fĂŒr In-situ-Gasmessung in rauen Prozessumgebungen etabliert. Das Vertrauen in die Technologie ist heute so groß, dass TDLS-Systeme zunehmend direkt in SIL-relevante PAT-Anwendungen eingebunden werden.

    EigenschaftBedeutung fĂŒr SIL
    HochselektivGasspezifische Absorptionslinien — kaum Querempfindlichkeiten bei richtiger WellenlĂ€ngenwahl
    In-situ-MessungKeine Probenentnahme, keine Probenleitung — weniger Fehlerquellen
    Keine VerbrauchsstoffeKein Referenzgas, keine Reagenzien — geringerer Wartungsaufwand
    Integrierte EigendiagnoseLaserleistung und optische QualitĂ€t werden kontinuierlich ĂŒberwacht — hohe DC
    DruckabhÀngigkeit beherrschbarBei bekanntem Prozessdruck kompensierbar
    Wachsende Felddatenbasis20+ Jahre Industrieeinsatz, zunehmend belastbare PFD-Werte

    Typische TDLS-Anwendungen in SIL-Kontext:

    • O₂ in InertisierungsĂŒberwachung (Explosionsschutz, SIL 1–2)
    • NH₃ in DĂŒngemittelproduktion und KĂ€lteanlagen (Personenschutz)
    • CO in Brenngas- und Vergasungsanlagen
    • H₂O (Taupunkt) in Erdgas- und Synthesegasanlagen

    Grenzen von TDLS:

    • Stark partikelbeladene Medien können den Laserstrahl abschwĂ€chen
    • Höhere Investitionskosten als konventionelle Sensoren
    • FĂŒr flĂŒssige Medien und komplexe Gemische weniger geeignet

    Validierungsstudien — warum sie fĂŒr Analysatoren oft unvermeidlich sind

    FĂŒr Drucktransmitter reicht der Nachweis durch TypprĂŒfung und BetriebsbewĂ€hrung. FĂŒr Prozessanalysatoren in SIL-Anwendungen reicht das oft nicht:

    1. Fehlende Felddatenbasis: Ein PFD-Wert ohne ausreichende statistische Basis ist nicht belastbar.

    2. Applikationsspezifische EinflĂŒsse: Derselbe Analysator verhĂ€lt sich in Erdgas anders als in Synthesegas. Die Prozessmatrix beeinflusst das Messergebnis auf eine Weise, die nur durch applikationsspezifische Tests quantifiziert werden kann.

    PrĂŒfpunktZiel der Validierung
    QuerempfindlichkeitsanalyseAlle relevanten Begleitstoffgruppen systematisch testen
    LangzeitstabilitĂ€t / DriftPFD-relevante Driftrate ĂŒber den PrĂŒfzyklus bestimmen
    UmgebungseinflĂŒsseTemperatur, Vibration, EMV auf Messergebnis prĂŒfen
    ProbenaufbereitungsausfallWas passiert bei Filterausfall, Pumpenausfall?
    Fail-Safe-VerhaltenWelchen Zustand nimmt der Analysator bei Eigenausfall ein?
    KalibrierbestĂ€ndigkeitStabilitĂ€t der Kalibrierung zwischen zwei PrĂŒfzyklen

    Teil 5: SIL-Zertifizierung und PrĂŒfintervalle

    Wer darf was zertifizieren?

    SIL-StufeZertifizierungswegBeispiele
    SIL 1HerstellererklÀrung möglichIntern mit Nachweis
    SIL 2HerstellererklĂ€rung möglichIntern oder optional TÜV/Exida
    SIL 3Externe Zertifizierung zwingendTÜV Rheinland, TÜV SÜD, Exida, Bureau Veritas
    SIL 4Externe Zertifizierung zwingendSpezialisierte akkreditierte Stellen

    PrĂŒfintervalle und PFDavg

    Vereinfachte Formel: PFDavg ≈ λDU × Ti / 2
    (λDU = Rate gefĂ€hrlicher unentdeckter AusfĂ€lle, Ti = PrĂŒfintervall)

    PrĂŒfintervallAuswirkung auf PFDavgAuswirkung auf Betrieb
    Kurz (3 Monate)PFDavg sinkt, SIL steigtHoher Wartungsaufwand
    Mittel (1 Jahr)Standard fĂŒr SIL-2-AnwendungenBalance aus Sicherheit und VerfĂŒgbarkeit
    Lang (4 Jahre)PFDavg steigtGeringe Wartungslast, höhere GerÀteanforderungen

    Teil 6: Normen und Regelwerke

    StandardAnwendungsbereich
    IEC 61508 (DIN EN 61508)Grundnorm — E/E/PE-Systeme
    IEC 61511 (DIN EN 61511)Prozessindustrie — SIS, Chemie, Petrochemie, Pharma
    IEC 62061Maschinenbau
    VDI/VDE 2180Sicherung verfahrenstechnischer Anlagen (DACH)
    NAMUR NE 79FeldgerÀte in sicherheitsinstrumentierten Systemen
    NAMUR NE 43Einheitssignale fĂŒr Analysatoren bei Fehler (Fail-Safe)
    IEC 60079Explosionsschutz (ATEX) — Überschneidung mit SIL bei Gasdetektoren

    HĂ€ufig gestellte Fragen (FAQ)

    Was ist der Unterschied zwischen SIL und PFD?
    SIL ist die Stufe (1–4), PFD ist der numerische Wert dahinter. SIL 2 bedeutet, dass die Ausfallwahrscheinlichkeit zwischen 10⁻³ und 10⁻ÂČ liegt. PFD ist Datenbasis, SIL ist normative Einordnung.

    Warum ist ein Prozessanalysator schwieriger fĂŒr SIL zu qualifizieren als ein Drucksensor?
    Drucksensoren haben eine riesige Felddatenbasis und physikalisch robuste Messprinzipien. Analysatoren messen in chemisch aktiven Medien — Querempfindlichkeiten, Matrixeffekte und begrenzte Felddaten machen applikationsspezifische Validierungsstudien oft unvermeidlich.

    Was ist diversitÀre Redundanz und wann ist sie notwendig?
    Zwei völlig verschiedene Messprinzipien fĂŒr dieselbe MessgrĂ¶ĂŸe — um systematische Fehler auszuschließen. Aufwendig und teuer, aber in Hochrisikoapplikationen mit unkontrollierbaren Querempfindlichkeiten manchmal der einzig sichere Weg.

    Warum gewinnt TDLS in SIL-Anwendungen an Bedeutung?
    Hohe SelektivitĂ€t, keine Verbrauchsstoffe, In-situ-Messung ohne Probenaufbereitung, integrierte Eigendiagnose mit hoher Diagnostic Coverage und ĂŒber 20 Jahre Felderfahrung machen TDLS zu einem zunehmend vertrauenswĂŒrdigen Messprinzip fĂŒr sicherheitsrelevante Anwendungen.

    Was sind typische Fehler bei SIL-Projekten mit Analysatoren?
    Erstens: GerĂ€t SIL-zertifiziert, aber Gesamtkreis nicht nachgewiesen. Zweitens: Querempfindlichkeiten nicht systematisch untersucht. Drittens: PrĂŒfintervall zu lang gewĂ€hlt, PFDavg verfehlt die SIL-Anforderung. Viertens: Probenaufbereitung nicht in die Sicherheitsbetrachtung einbezogen.

    Was bedeutet 2oo3-Abstimmung konkret?
    Drei Sensoren messen dieselbe GrĂ¶ĂŸe. Zwei von drei mĂŒssen ĂŒbereinstimmend ansprechen, um die Schutzaktion auszulösen. Fehlalarme durch Einzelausreißer werden vermieden, Wartung eines Sensors im Betrieb ist möglich.

    Muss jeder Analysator im SIL-Kreis zertifiziert sein?
    Er muss die SIL-Anforderungen erfĂŒllen — durch formale Zertifizierung oder BetriebsbewĂ€hrungsnachweis. Bei Analysatoren mit begrenzter Felddatenbasis ist eine formale Zertifizierung oft der praktischere Weg.

    Was ist ein unerkannter Fehler und warum ist er so gefÀhrlich?
    Ein unerkannter (undetected) Fehler liegt vor, wenn ein GerĂ€t einen falschen Messwert ausgibt, ohne einen Alarm oder ein Fehlersignal zu erzeugen. Der Sicherheitskreis "glaubt", alles sei in Ordnung — im Ernstfall löst die Schutzfunktion nicht aus. Der PFD-Wert eines GerĂ€tes wird maßgeblich durch die Rate gefĂ€hrlicher unerkannter AusfĂ€lle bestimmt. Je höher die Diagnostic Coverage (DC), desto mehr Fehler erkennt das GerĂ€t selbst — und desto besser der PFD.

    Warum fallen viele Analysatoren bei der SIL-Qualifizierung durch EMV- und Temperaturtests?
    Prozessumgebungen enthalten starke elektromagnetische Felder und Temperaturschwankungen, die Messwerte beeinflussen können — ohne dass das GerĂ€t einen Fehler anzeigt. Das sind unerkannte Fehler. EMV-PrĂŒfungen nach IEC 61000 und Umgebungstests nach IEC 60068 sind fĂŒr SIL-GerĂ€te Pflicht. Viele GerĂ€te, die im Labor einwandfrei messen, scheitern an diesen Umgebungsanforderungen.

    Warum ist Software ein SIL-Risikofaktor?
    Softwarefehler sind systematische Fehler — sie betreffen alle GerĂ€te desselben Typs gleichzeitig und sind durch Hardware-Redundanz nicht beherrschbar. IEC 61508 Teil 3 stellt eigene Anforderungen an Softwareentwicklung, Testabdeckung und Dokumentation fĂŒr sicherheitsgerichtete Systeme. Viele Hersteller unterschĂ€tzen diesen Aufwand und scheitern beim SIL-Assessment an der Softwaredokumentation.

    NE 43 definiert Einheitssignale fĂŒr Analysatoren im Fehlerfall (z.B. < 3,6 mA als Fehlersignal). In SIL-Anwendungen ist das Fail-Safe-Verhalten entscheidend: Geht der Analysator bei Eigenausfall in einen erkannten, sicheren Zustand?


    Quellen und weiterfĂŒhrende Literatur

    Normen und Richtlinien

    NormTitelRelevanz fĂŒr diesen Artikel
    IEC 61508 (DIN EN 61508)Functional Safety of E/E/PE Safety-related SystemsGrundnorm, SIL-Definition, PFD, HFT, SFF, DC
    IEC 61508-3Software Requirements for Safety SystemsSoftwareanforderungen fĂŒr sicherheitsgerichtete Systeme
    IEC 61511 (DIN EN 61511)Safety Instrumented Systems for the Process IndustrySIS in der Prozessindustrie, HAZOP-Integration
    IEC 61000 (Serie)Elektromagnetische VertrĂ€glichkeit (EMV)EMV-Anforderungen fĂŒr SIL-GerĂ€te
    IEC 60068 (Serie)UmweltprĂŒfungenTemperatur, Vibration, Feuchtigkeit — Umgebungsqualifizierung
    IEC 60079Explosionsschutz (ATEX)Überschneidung mit SIL bei Gasdetektoren und Ex-Bereichen
    IEC 62061Funktionale Sicherheit im MaschinenbauVergleichsnorm zur IEC 61508/61511

    Nationale und Industriestandards

    StandardHerausgeberInhalt
    VDI/VDE 2180VDI/VDESicherung von Anlagen der Prozessindustrie — DACH-spezifische Umsetzung
    NAMUR NE 43NAMUREinheitssignale fĂŒr Prozessanalysatoren — Fail-Safe-Verhalten (4–20 mA)
    NAMUR NE 79NAMUREinsatz von FeldgerÀten in sicherheitsinstrumentierten Systemen

    Fachliteratur

    • Rausand, M. (2014): Standardwerk zur ZuverlĂ€ssigkeit sicherheitskritischer Systeme — theoretische Grundlagen und industrielle Anwendungen. Wiley.
    • Smith, D.J.; Simpson, K.G.L. (2010): Praxisorientierter Leitfaden zur Umsetzung von IEC 61508 und IEC 61511 — empfohlen fĂŒr Einsteiger und Praktiker. Butterworth-Heinemann, 3. Auflage.
    • Goble, W.; Brombacher, A. (2000): Methodik zur Ausfallratenanalyse (FMEDA) als Grundlage fĂŒr SIL-Assessments. ISA.
    • CCPS / AIChE (2007): Leitfaden fĂŒr die Auslegung und den zuverlĂ€ssigen Betrieb sicherheitsinstrumentierter Schutzsysteme. Wiley.
    • CCPS / AIChE (2000): Quantitative Risikoanalyse fĂŒr chemische Prozesse — methodische Grundlage fĂŒr SIL-Bestimmung via LOPA. Wiley, 2. Auflage.

    Organisationen und Datenquellen

    OrganisationRessource
    exida (www.exida.com)SIL-Daten, Failure Rates, GerÀteassessments, FMEDA-Datenbank
    TÜV SÜD / TÜV RheinlandZertifizierungsrichtlinien, Whitepapers zu SIL-Bewertungen
    NAMUR (www.namur.net)Empfehlungen fĂŒr Prozessindustrie, NE-Reihe
    HSE (UK Health and Safety Executive)Human Factors and Functional Safety Reports
    ISA (International Society of Automation)ISA-84 — US-amerikanisches Pendant zu IEC 61511

    Spezifisch Prozessanalytik und PAT

    QuelleInhalt
    ASTM E1655PrĂŒfverfahren fĂŒr multivariate quantitative Analyse im Nahinfrarot — Grundlage fĂŒr NIR in der Prozessanalytik
    ISO 10723Leistungsbewertung von Analysensystemen in der Erdgasindustrie — Methodik ĂŒbertragbar auf Prozessanalysatoren allgemein
    ISO 13528Statistische Methoden zur Beurteilung analytischer Verfahren durch Ringversuche — relevant fĂŒr Validierungsstudien
    Hersteller-Safety-Manuals und SIL-ZertifikateGerĂ€tespezifische PFD-Werte und SicherheitskenngrĂ¶ĂŸen sind ausschließlich den offiziellen Safety Manuals und Zertifikaten des jeweiligen Herstellers zu entnehmen. Zu beziehen direkt beim Hersteller oder ĂŒber akkreditierte Zertifizierungsstellen wie exida oder TÜV.
    AIChE CCPSLeitfĂ€den zur Prozesssicherheit in der chemischen und petrochemischen Industrie — relevant fĂŒr Gasanalytik in SIL-Umgebungen

    Hinweis: Normen werden regelmĂ€ĂŸig ĂŒberarbeitet. FĂŒr SIL-Nachweise sind stets die zum Zeitpunkt der Planung gĂŒltigen Ausgaben maßgeblich. Die hier genannten Ausgaben entsprechen dem Stand Mai 2026.


    Fazit

    SIL und PFD sind unverzichtbare KenngrĂ¶ĂŸen fĂŒr jeden, der Prozessanalysatoren in sicherheitsrelevante Schutzkreise einbinden will. Die Besonderheiten von Analysatoren — chemische EinflĂŒsse, Querempfindlichkeiten, begrenzte Felddatenbasis, komplexe Probenaufbereitung — erfordern eine systematischere Qualifizierung als bei Druck- und Temperaturtransmittern.

    TDLS hat sich als Technologie mit wachsendem SIL-Vertrauen etabliert. DiversitĂ€re Redundanz bleibt die Ausnahme — aber eine notwendige, wenn systematische Fehler nicht ausgeschlossen werden können.

    Der SIL-Nachweis ist immer eine Systemaufgabe — nicht die Aufgabe eines einzelnen GerĂ€tes.


    Analytic Journal — Das Portal der Prozessanalytik
    Dusko Kadijevic | DK Consulting | Publisher Analytic Journal | analyticjournal.de | +491733129816
    Verfasst Mai 2026. NormĂ€nderungen sind möglich — aktuelle Normausgaben sind maßgeblich.


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    Redaktioneller Hinweis

    Dieser Artikel wurde nach bestem Wissen und Gewissen auf Basis öffentlich verfĂŒgbarer Fachinformationen, Normen und Herstellerangaben erstellt. Technische Spezifikationen können sich Ă€ndern — fĂŒr verbindliche Angaben konsultieren Sie aktuelle HerstellerdatenblĂ€tter und zustĂ€ndige Normungsgremien. Analytic Journal erstellt redaktionellen Content unabhĂ€ngig von Herstellern und Werbepartnern.

    Autor: Dusko Kadijevic — 20 Jahre Erfahrung als PAT-Anwender in der Prozessindustrie